放射線計測関連無料オンラインセミナー開催のご案内(放射線計測機器の信頼性確保/改正JIS Z4504解説)

開催日：2025年1月23日

（テーマ１）放射線計測機器の信頼性確保について
（テーマ２）新たに制定されたJIS Z4504について

主催：放射線計測委員会

　この度、一般社団法人日本電気計測器工業会　放射線計測委員会は、放射線関連セミナーとして
（テーマ１）放射線計測機器の信頼性確保について
（テーマ２）新たに制定されたJIS Z4504について
の２テーマでの講演会を開催いたします。
　テーマ１では、放射線施設の安全管理に用いられている放射線計測機器の信頼性確保に関してご紹介します。
　テーマ２では、2023年に新たに制定された、JIS Z 4504　放射能測定－放射性表面汚染の測定及び評価－について紹介します。JIS Z4504は表面汚染測定法及び評価法に関する国際規格の動向から、旧規格を廃止し、ISO 7503規格と同じ3部構成（第1部：一般、第2部：ふき取り試験、第3部：測定器の校正）の新たな規格群として制定されました。今回の制定に当たっては、表面汚染の測定法及び評価法は、通常の放射線管理の手法として極めて重要な要素であり、これに関する国際整合性の観点から、完全に対応国際規格に合わせた規定内容として作成されています。

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